项目描述

集成电路(IC)的快速发展，体积逐渐向更小更密集的规格演进，且加上IC运行速率的提升和成本的下降，使得IC EMC问题日益受到重视，其中包含IC电磁辐射、电磁抗扰、脉冲抗扰以及EOS失效模拟等测量解决方案逐渐已得到行业广泛应用，东昇射频立足电磁兼容软硬件自动化测量方案开发经验，现已具备完整的针对IC EMC的全套测量解决方案，符合欧洲、美国及日本等标准测试要求，可提供针对手机、电脑、家电等消费类产品IC的EMC测量解决方案。